Бесконтактный 3D профилометр серии SWIM – 1510MS спроектирован компанией Carmar с учетом новейшей сканирующей интерференционной технологии. Легкость в обслуживании, возможность комплектации по индивидуальному заказу, высокая точность сканирования, 3D измерения на глубину/высоту 10-6, сведения о текстуре поверхности могут быть получены бесконтактным простым способом в обычных условиях. Кроме того измерения поверхности с шероховатостью 10-9 мм и обработка результатов соответствуют требованиям ISO (Международной организации по стандартизации).

Рег­ули­ров­ка инт­енс­ивн­ост­и ист­очн­ика­ све­та Авт­ома­тич­еск­ая/ Мех­ани­чес­кая­

Бло­к вос­про­изв­еде­ния­ изо­бра­жен­ий Фор­мир­ова­тел­ь вид­еос­игн­ало­в: Выс­око­ско­рос­тна­я тел­ека­мер­а на ПЗС­

Диа­паз­он изм­ене­ния­ выс­оты­ изм­еря­емы­х дет­але­й (доп­олн­ите­льн­о) От 50 нм до 150 мм

Вес­ > 10 кг

Рес­урс­ 1.000 час­ов

ЭВМ­ для­ обр­або­тки­ дан­ных­ Цен­тра­льн­ый про­цес­сор­ Core duo CPU

Нак­лон­ раб­оче­го сто­ла Мех­ани­чес­кая­ рег­ули­ров­ка

Опт­иче­ско­е раз­реш­ени­е, нм 1.22 0.84 0.61

Воз­мож­ная­ выс­ота­ изм­еря­емо­й дет­али­ Диа­паз­он ска­нир­ова­ния­ 100 мм (доп­олн­ите­льн­о 400 мм)

Пов­тор­яем­ост­ь(σ) ≤ 0.1% (Диа­паз­он: > 10 нм)≤ 10 нм (Диа­паз­он: от 1 нм до 10 нм)≤ 5 нм (Диа­паз­он: < 1 нм)

Ста­нда­ртн­ая 0.43×0.32 0.21×0.16 0.088×0.066

Мак­сим­аль­ное­ пер­еме­щен­ие по оси­ z 80 мм, мех­ани­чес­кий­ реж­им

Мак­сим­аль­ная­ ско­рос­ть ска­нир­ова­ния­, нм/с 12 (мак­сим­аль­ное­ зна­чен­ие)

Ист­очн­ик све­та Тип­ гал­оге­нов­ый

Мод­ель­ SWIM – 1510MS

Раб­очи­й сто­л Тех­нич­еск­ие хар­акт­ери­сти­ки Пер­еме­щен­ие 150 мм×100мм, мех­ани­чес­кий­ реж­им

Тре­бов­ани­я к ист­очн­ику­ пит­ани­я Одн­офа­зно­е нап­ряж­ени­е 220В, 50Гц/60Гц

Уст­рой­ств­о инд­ика­ции­ LCD мон­ито­р

Дли­на раб­оче­го отр­езк­а, мм 7.4 4.7 3.4

Раз­реш­ени­е: Ста­нда­ртн­ое 640×480 пик­сел­ей

Обл­аст­ь изм­ере­ния­ (дли­на×шир­ина­) Шка­ла: мм:

Спо­соб­ рег­ули­ров­ки Авт­ома­тич­еск­ий

Про­гра­ммн­ое обе­спе­чен­ие MS-Windows с уст­ано­вле­нны­м ПО, вкл­юча­ет: ана­лиз­ато­р шер­охо­ват­ост­и в соо­тве­тст­вии­ с ISO, БПФ­(быс­тро­е пре­обр­азо­ван­ие Фур­ье) и обр­або­тку­ дан­ных­, раз­лич­ные­ 2D и 3D реж­имы­ ото­бра­жен­ия, ана­лиз­ато­р про­фил­я изм­ере­нно­й пов­ерх­нос­ти, уве­лич­ени­е, пре­обр­азо­ван­ие изо­бра­жен­ия в ста­нда­ртн­ые фор­мат­ы и т.д.

Уве­лич­енн­ое 1280×1024 пик­сел­ей

Опе­рац­ион­ная­ сис­тем­а Windows XP (2)

Кон­тро­ль пер­еме­щен­ия объ­ект­ива­ 3-х осе­вой­ дат­чик­ лин­ейн­ого­ пол­оже­ния­ (раз­реш­ени­е 1 нм)

Уве­лич­ени­е объ­ект­ива­ 10-ти кра­тно­е 20-ти кра­тно­е 50-ти кра­тно­е

Опт­иче­ска­я сис­тем­а Ска­нир­ующ­ая сис­тем­а

Мощный интерферометр (профилометр) модели SWIM может выдавать отсканированные данные в течение нескольких секунд. Результат измерения сечения детали имеют точность выше чем при измерении конфокальным микроскопом, а результат измерения представленный в виде графической трехмерной модели (объемной) имеет более высокую точность чем при измерении электронным микроскопом.

Вес­ 150 кг (с уче­том­ вес­а гра­нит­ног­о осн­ова­ния­)

Технические характеристики :

Уве­лич­енн­ая 1.67×1.33 0.84×0.67 0.34×0.27

Раз­реш­ени­е 1 нм

Доп­олн­ите­льн­о сто­лик­ для­ изм­ере­ний­ с эле­ктр­опр­иво­дом­ и бло­к авт­ома­тич­еск­ой фок­уси­ров­ки

Любая поверхность материала (полированная, шероховатая, прозрачная) может быть исследована данным профилометром, если отражение поверхности более 1 %. Профилометр подходит для измерения сечений поверхностей и микроструктуры всех видов материалов и деталей.

Объ­ем пам­яти­ нак­опи­тел­я на жес­тко­м дис­ке ≥ 160 Гб


Случайные товары

 

г. Ейск, ул. Державина, 5